特許
J-GLOBAL ID：200903039082245242
磁気デイスク媒体の寿命試験方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-156430
公開番号（公開出願番号）：特開平5-002818
出願日： 1991年06月27日
公開日（公表日）： 1993年01月08日
要約：
【要約】【構成】磁気ディスク媒体の寿命試験装置は、磁気ディスク媒体2を回転させる回転手段4と、磁気ディスク媒体2に信号の記録、再生を行なう磁気ヘッド3と、該磁気ヘッド3を所定の位置に位置決めする位置決め手段5と、スライダの空気流入端側にテーパが無く磁気ディスク媒体2が回転しても浮上しない流入テーパレススライダ1と該流入テーパレススライダ1を所定の位置へ位置決めする位置決め手段6と磁気ディスク媒体2の損傷を電気的に検知する電気特性処理部7とを有する。【効果】本発明によれば、磁気ディスク媒体とスライダが、安定して接触するので、実際の磁気ディスクで発生する損傷モードに近い状態を得ることができる。また、連続して接触するので、試験時間が短縮できる。また、加振機構が不要となるので、装置の構成を簡単なものにできるという効果がある。
請求項（抜粋）：
磁気ヘッドによって磁気ディスク媒体に信号を記録し、空気流入端側にテーパの無いスライダを前記磁気ディスク媒体の信号を記録した場所に接触させ、前記磁気ヘッドで前記磁気ディスク媒体に記録した信号を再生し、記録した信号と再生した信号を比較し、磁気ディスク媒体の寿命を試験することを特徴とする磁気ディスク媒体の寿命試験方法。
IPC (3件)：
G11B 19/04
, G11B 5/00
, G11B 5/84
