特許

J-GLOBAL ID：200903039127960100

ガス分析装置

発明者： 野田 廣
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-353040
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180364
出願日： 1998年12月11日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：

【要約】【課題】ゼロ点校正時に分析計入力端での圧力低下を防止し、電磁弁を省略できることによる低コストのガス分析装置を提供する。【解決手段】ゼロ点校正とサンプルガス測定の切換えをポンプ12の運転/停止の切換えにより行う。ポンプ12が停止中は、サンプルガス7のゼロガスライン6への流通が停止され、サンプルガス7はすべてサンプルガスライン5を通って分析計本体1のガス取入口に供給される。また、ポンプ12を一定の回転数で運転すると、サンプルガス7はゼロガスライン6側に吸引され、精製機構2によりゼロガスが精製される。このゼロガスは分析計本体1により吸引されるとともに、過剰のゼロガス流量はサンプルライン5を逆流し、サンプルガス7と共にゼロガスライン6に流入し精製機構2でゼロガスに再度精製される。このゼロガスはサンプルガスライン5とゼロガスライン6を循環するとともに分析計本体1のガス取入口に供給される。

請求項（抜粋）：

ゼロ点校正時に、精製機構により精製したゼロ点校正用ガスをサンプルガス導入ラインに導入し、ゼロ点校正を行う機能を備えたガス分析装置において、サンプルガス導入ラインの一部に並列ラインを設け、該並列ラインの上流側にポンプを、下流側に精製機構を配設し、ポンプ動作時にゼロ点校正用ガスをガス分析計に導入するとともに、サンプルガス導入ライン側に逆流させ前記並列ライン側に戻すようにしたことを特徴とするガス分析装置。

IPC (5件)：

G01N 21/76 ,  G01N 1/00 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/64

FI (5件)：

G01N 21/76 ,  G01N 1/00 C ,  G01N 21/27 F ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 21/64 Z

Fターム (42件)：

2G043AA01 ,  2G043BA11 ,  2G043BA12 ,  2G043BA13 ,  2G043CA01 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043EA06 ,  2G043EA13 ,  2G043FA07 ,  2G043KA01 ,  2G043KA03 ,  2G043LA07 ,  2G054AA01 ,  2G054CA01 ,  2G054CA06 ,  2G054CA10 ,  2G054CE01 ,  2G054EA01 ,  2G054EA03 ,  2G054EA04 ,  2G054EB05 ,  2G054FA50 ,  2G054FB08 ,  2G054GA01 ,  2G054GA02 ,  2G054GB10 ,  2G054JA08 ,  2G059AA01 ,  2G059BB02 ,  2G059CC04 ,  2G059CC05 ,  2G059CC06 ,  2G059DD03 ,  2G059EE01 ,  2G059EE06 ,  2G059EE07 ,  2G059FF08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH03 ,  2G059KK10 ,  2G059MM15