特許

J-GLOBAL ID：200903039163842989

電子写真感光体表面層の膜厚測定方法

発明者： 友田 光弘
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 池浦 敏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-169791
公開番号（公開出願番号）：特開2002-365817
出願日： 2001年06月05日
公開日（公表日）： 2002年12月18日
要約：

【要約】【課題】 電子写真感光体における表面層の膜厚測定方法において、フィラーの光拡散の影響を受けず、吸光量が少ない被測定層の測定にも適し、更に積層状態でも表面層の膜厚測定が可能な測定方法を得る。【解決手段】 フィラーを分散した表面層の膜厚を光熱変換効果を用いて測定するにあたり、フィラーを分散した表面層の吸収係数を求め、膜厚測定の対象となる膜質の有無を確認する。また、膜厚測定は、フィラーを分散した表面層の表面に、該表面層の熱物性値より決定される所定の周期で断続的に変調した熱励起光を入射させ、発生する音響波の振幅値を検出して行う。

請求項（抜粋）：

フィラーを分散した表面層の膜厚を光熱変換効果を用いて測定するにあたり、フィラーを分散した表面層の吸収係数を求め、膜厚測定の対象となる表面層膜質の有無を確認することを特徴とする電子写真感光体表面層の膜厚測定方法。

IPC (4件)：

G03G 5/00 101 ,  G01B 17/02 ,  G03G 5/047 ,  G03G 5/147

FI (4件)：

G03G 5/00 101 ,  G01B 17/02 Z ,  G03G 5/047 ,  G03G 5/147

Fターム (9件)：

2F068AA28 ,  2F068BB14 ,  2F068DD03 ,  2F068GG07 ,  2H068AA04 ,  2H068AA08 ,  2H068AA14 ,  2H068AA28 ,  2H068EA41