特許

J-GLOBAL ID：200903039172356434

電源装置および劣化検出方法

発明者： 樋山 智
出願人/特許権者： 本田技研工業株式会社
代理人 (1件)： 渡部 敏彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-094709
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257856
出願日： 1996年03月26日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 コンデンサセルの容量値を直接測定することにより劣化を正確かつ簡単に検出できる電源装置および劣化検出方法を提供する。【解決手段】 電源装置1は、コンデンサマネジメントECU21、コンデンサユニット24およびDC-DCコンバータ11を有する。コンデンサマネジメントECU21はCPU31、測定器37、マルチプレクサ39を有する。CPU31はマルチプレクサ39を切り換えて最初(No.1)のコンデンサセル27の両端子と測定器37の両端子とを接続し、そのコンデンサセル27のバイパススイッチ27bをバイパス側に切り換える。測定器37を起動し、コンデンサセル27内の電気二重層コンデンサ27aに交流電圧Vを供給しそのときの充電電流Iを測定する。測定された電流値Iと電圧値Vとから、コンデンサセル27の容量値Cを算出する。

請求項（抜粋）：

蓄電用コンデンサを備えたコンデンサセルを複数有し、各コンデンサセルの劣化を充電時に検出する電源装置において、前記コンデンサセルが満充電になるまでの充電時間および充電電流を測定する測定手段と、該測定された充電時間および充電電流に基づき、前記コンデンサセルの容量を算出する容量算出手段と、該算出されたコンデンサセルの容量が所定量以下である場合、該コンデンサセルが劣化していると判定する劣化判定手段とを備えたことを特徴とする電源装置。

IPC (3件)：

G01R 31/00 ,  H01G 9/155 ,  H01G 13/00 361

FI (3件)：

G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361 C ,  H01G 9/00 301 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• コンデンサの劣化診断方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-019073   出願人：株式会社豊田自動織機製作所
• 特開昭49-008285
  
• 電力用蓄電装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-264153   出願人：株式会社岡村研究所, エルナー株式会社, 旭硝子株式会社