特許
J-GLOBAL ID:200903039184970316

探傷検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 秋本 正実
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-051741
公開番号(公開出願番号):特開平7-260743
出願日: 1994年03月23日
公開日(公表日): 1995年10月13日
要約:
【要約】【目的】 誤検出を防止し、検査試料の材質が磁性、非磁性を問わない正確な探傷検査を可能にする探傷検査装置の提供にある。【構成】 発振器1の出力電圧を検査試料である直管8に取り付けた2つのリング状電極2-1と2-2の間に印加し、直管表面に電流を流す。直管8に流れた電流によって誘導された磁場を、直管8の内部に設置した磁場測定器3により測定し、磁場測定情報をもとに傷検出部4で傷を検出する。また、磁場測定器3は、探傷装置制御部7により与えられた指令信号に基づいて動作する測定器駆動部5によって直管8内を移動する。磁場測定器3の位置は、測定器駆動部5からの信号によって位置検出部6により求める。さらに、探傷装置制御部7において、傷検出部と位置検出部の2つの情報より、傷が生じた場所を求める。
請求項(抜粋):
導体表面の傷を検査する探傷検査装置において、検査試料の探傷部分の両側に取付けられ電流を均一に通電する電極と、該電極間に電圧を印加することにより検査試料に直接電流を流すための電流源と、該電流源により前記検査試料に流れる電流の経路を測定するための電流経路測定手段とを備え、該電流経路測定手段により傷による電流経路の変化を測定することにより傷を検出することを特徴とする探傷検査装置。

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