特許

J-GLOBAL ID：200903039209625457

赤外線ガス分析計

発明者： 角 心吾 ,  松久 浩明 ,  中森 明興 ,  荒谷 克彦
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-358300
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201583
出願日： 1992年12月25日
公開日（公表日）： 1994年07月19日
要約：

【要約】【目的】 分析計が未校正であっても厳格な校正を行なうことなくガス濃度を測定できるようにする。【構成】 予めメモリ28にb=(M0-MS)/M0 (M0,MSは、それぞれゼロガス導入時、濃度aのスパンガス導入時の試料セルに対する検出値)の値を格納しておき、MPU26が、試料ガス導入時の比較セル11及び試料セル12に対する検出値M,Rを取り込み、C=a・(M0・R-M・R0)/(b・M0・R)より、試料ガス濃度Cを求める。

請求項（抜粋）：

試料セル及び比較セルに交互に赤外光を投射し、試料セルの透過光と比較セルの透過光を単一の検出器に交互に導入し、その強度を検出する赤外線ガス分析計において、所定濃度aのスパンガスを導入した時の試料セルの透過光強度の検出値のゼロガス導入時に対する減少率b=(M0-MS)/M0M0:ゼロガス導入時の試料セルの透過光強度の検出値MS:スパンガス導入時の試料セルの透過光強度の検出値及び該所定濃度aの値を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された値aとbとを用いて次式により試料ガス濃度Cを算出する演算手段と、を備えたことを特徴とする赤外線ガス分析計。C=a・(M0・R-M・R0)/(b・M0・R)ただし、M :試料ガス導入時の試料セルの透過光強度の検出値R :試料ガス導入時の比較セルの透過光強度の検出値R0:ゼロガス導入時の比較セルの透過光強度の検出値である。

IPC (2件)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/35