特許

J-GLOBAL ID：200903039262561266

回転装置の幾何学的位置及び運動学的パラメータを測定するための装置及び方法

発明者： ゴードン,バーナード エム. ,  アブラハム,ダグラス ,  ウィンストン,ディヴィッド ,  ワゴナー,ポール
出願人/特許権者： アナロジック コーポレーション
代理人 (1件)： 岡部 正夫 (外10名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-516177
公開番号（公開出願番号）：特表平9-506176
出願日： 1994年10月25日
公開日（公表日）： 1997年06月17日
要約：

【要約】回転装置の幾何学的、位置的、及び、運動学的なパラメータを測定するための装置及び方法が開示される。本装置は、ディスクの幾何学的中心(31)と同心円状の既知の半径を有する円の周囲で、ディスク(28)の如き回転可能な装置の周辺部に隔置されて分布された、複数の間隔マーカーを含む。そのようなマーカーを検知するためのセンサ(42、44、50、52)が、少なくとも3つ好ましくは4つ設けられ、回転可能な装置と共に回転するマーカーを検知するように位置決めされる。上記センサは、ディスクの周囲で角度方向に互いに隔置されている。各々のセンサがマーカーを検知した後の時間を測定することにより、選択されたマーカーの間の位置を補間するための手段も設けられる。センサに対して固定された点に対する回転可能な装置の基準点を確立するために、基準マーカー(40A)が設けられる。回転可能な装置の幾何学的中心の横方向の変位、回転可能な装置の真円度(必要な場合)、センサに対して固定された点に対する回転可能な装置の角位置、及び、回転可能な装置が回転する間のその回転可能な装置の角速度を測定するための回路が設けられる。本装置は、X線断層撮影装置に特に応用される。

請求項（抜粋）：

幾何学的中心を有し、回転軸線の回りで回転して、該回転軸線に対して直交する回転平面を形成するように、サポート手段に取り付けられている、回転可能な装置と共に使用されて、前記回転可能な装置が前記軸線の回りで回転する際に、前記回転平面の中における前記回転可能な装置の位置的パラメータ、幾何学的パラメータ及び運動学的パラメータの1つあるいはそれ以上を測定するための測定装置であって、 前記回転可能な装置に対して固定されると共に、前記回転可能な装置の幾何学的中心と実質的に同心円状の既知の曲率半径を有する円弧に沿って角度方向に互いに隔置された、複数の間隔マーカーと、 前記幾何学的中心の回りの3つの異なる角位置においてそれぞれ前記サポート手段に対して固定され、前記回転可能な装置が前記回転軸線の回りで回転する際に、前記マーカーを検知するための、少なくとも3つのセンサと、 前記各々のセンサによって検知された隣接するマーカーの間の角位置を、最後のマーカーが前記各々のセンサによって検知された後の測定された時間経過の関数として補間するための、補間手段と、 前記各々のセンサによる前記マーカーの検知、並びに、最後のマーカーが前記各々のセンサによって検知された後の測定された時間経過の関数として、前記1又はそれ以上のパラメータを測定するための、測定手段とを備えることを特徴とする、測定装置。

IPC (4件)：

G01B 21/22 ,  A61B 6/03 321 ,  A61B 6/03 331 ,  G01D 5/245

FI (4件)：

G01B 21/22 ,  A61B 6/03 321 J ,  A61B 6/03 331 ,  G01D 5/245 B