特許
J-GLOBAL ID：200903039270351823
試験片固定型転がり接触疲労試験機
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鎌田 文二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-151375
公開番号（公開出願番号）：特開平11-051836
出願日： 1998年06月01日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：
【要約】 (修正有)【解決手段】異なるメーカーによって製造された軸受材料の試験片の疲労寿命を測定、比較したり、熱処理、表面のコーティング、潤滑剤等の差異による疲労寿命への影響を評価するための転がり接触疲労試験機であって、静止した試験片12の外周に押圧した状態で試験片の周囲を公転する負荷ボール26を備えている。【効果】試験片は、試験中静止しているので、センサーを試験片の表面あるいは内部に直接取り付けることができる。このためセンサーを試験片の転動面から僅か数ミリの所に配置することができ、ノイズや熱の影響を最小限に抑えて、センサーの測定精度を向上させることができる。また試験片が静止しているので、試験中に試験片の温度を制御することができる。さらに、従来できなかったクラックの発生や進行速度に関する研究が可能となり、また表面のコーティング層の剥離に関する解析も可能となる。
請求項（抜粋）：
試験片が試験中に固定されているように試験片を試験機に保持するための取り付け手段と、試験中に試験片の周囲を回転し、試験片に周期的な接触応力を加える軸受手段と、試験中に前記軸受手段を試験片の外周に所定の圧力で押し付けて、軸受手段を試験片と回転自在に係合させる押圧手段と、前記軸受手段を試験片の外周に押し付けた状態で、試験片の周囲を回転させる回転手段とを備え、試験片に周期的な接触応力を加えることによって、試験片の転がり接触疲労特性を測定するための試験機。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N 3/32 C
, G01N 3/32 E
, G01M 13/04
