分光分析装置及び分析用細管

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：吉田研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-214566
公開番号（公開出願番号）：特開平10-062334
出願日： 1996年08月14日
公開日（公表日）： 1998年03月06日
要約：

【要約】【課題】試料が少量で済み、しかも外乱の影響を受けることなく正確かつ高感度の分析ができる分光分析装置を提供する。【解決手段】分析用細管20は、管内を通過する光を管内に向かって反射する反射層が設けられた可撓性を有する細管であり、内部に試料ガスが満たされる。半導体レーザ12の出射光は、分析用細管20の一端から入射し、当該管内を反射を繰り返しながら通過し、管内の試料ガスにて吸収作用を受けたのち、光検出器30で検出される。温度コントローラ14及び電流コントローラ16による動作温度及び駆動電流の制御により半導体レーザ12の発振波長を掃引し、光検出器30にて各波長についての光強度を求めることにより、試料ガスの光吸収スペクトルが得られる。試料ガスの容器として分析用細管20を用いたことにより、試料ガスの量が極めて少量で済む。

請求項（抜粋）：

光源と、試料を収容し、一方端から前記光源の光が入力される分析用細管であって、前記光源の光を管内に向かって反射するよう加工された分析用細管と、を有し、前記分析用細管の他方端から出射した光を検出して分析を行うことを特徴とする分光分析装置。

IPC (3件)：

G01N 21/03 , G01N 21/05 , G01N 21/35

FI (3件)：

G01N 21/03 B , G01N 21/05 , G01N 21/35 Z

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