特許
J-GLOBAL ID:200903039310854025

集積回路に固有の識別子を提供するシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山口 邦夫 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-600207
公開番号(公開出願番号):特表2002-537646
出願日: 2000年02月11日
公開日(公表日): 2002年11月05日
要約:
【要約】集積回路(IC)(40)に組み込まれるべき集積回路識別デバイス(ICID)(38)は、電子セルのアレイ(46)を有するが、それぞれのセルの出力信号の大きさはセルからセル毎に代わる、ランダムに発生するパラメータ変動の関数である。ICID(38)は、また、それぞれのセルの出力を測定して、そのアレイ(46)のすべての素子の測定された特性の特定の組み合わせを反映した値を有する出力データを生成するための測定回路(50)を有する。アレイ(46)の素子数を十分大きくしたときには、相当高い確率で、いずれか一つのIC(40)に埋め込まれたICID(38)の被測定アレイセルの特性のパターンが固有となり、何百万という他のIC(40)に埋め込まれたICID(38)によって測定されたそのようなパターンとは区別され得ることを確実にする。したがって、ICID回路(38)によって生成された出力データの値は、それが組み込まれているIC(40)に対する固有の「指紋」として作用し、そのIC(40)にとっての固有の識別子(ID)として利用され得る。
請求項(抜粋):
集積回路(IC)に実装される装置(ICID)であって、それが実装された集積回路を識別する識別番号(ID)を発生するもので、 その装置が、 前記IC内に形成された複数の識別セルであって、それぞれのセルが前記ICのランダムなパラメータの変動の実質的な関数である出力を有するものと、 前記複数の識別セルの出力を監視し、そして、それに応じて前記IDを発生する測定手段を有するが、前記IDもまた前記セル内のランダムなパラメータの変動の実質的な関数である装置。
IPC (5件):
H01L 21/822 ,  H01L 21/02 ,  H01L 21/8234 ,  H01L 27/04 ,  H01L 27/088
FI (3件):
H01L 21/02 A ,  H01L 27/04 A ,  H01L 27/08 102 Z
Fターム (10件):
5F038AV06 ,  5F038DF05 ,  5F038DF06 ,  5F038DT13 ,  5F038EZ20 ,  5F048AA07 ,  5F048AB03 ,  5F048AC01 ,  5F048BA01 ,  5F048BB15
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 特開平1-274082
  • 特開平3-058407
  • 特開昭60-153156
審査官引用 (3件)
  • 特開平1-274082
  • 特開平3-058407
  • 特開昭60-153156

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