特許
J-GLOBAL ID：200903039370447070

検眼装置

発明者：
細井 良晋

細井 良晋 について


出願人/特許権者：
株式会社ニデック

株式会社ニデック について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-187862
公開番号（公開出願番号）：特開平9-010176
出願日： 1995年06月30日
公開日（公表日）： 1997年01月14日
要約：
【要約】【目的】 検査時間を短縮し、記憶による検査の誤りを防止する。【構成】 矯正光学系を駆動して所期の光学系を検査窓に配置する自覚式屈折力測定装置と、被検眼に視標を呈示する視標呈示手段と、他覚式屈折力測定装置により得られた測定デ-タを入力する入力手段と、を備える検眼装置において、他覚矯正値確認検査開始時に前記入力手段により入力された測定デ-タに基づいて矯正光学系を初期設定する矯正光学系制御手段と、測定デ-タの信頼性又は視機能異常を判断するために必要な最低視力値の視標を含む視標を呈示する視標制御手段と、を有する。
請求項（抜粋）：
矯正光学系を駆動して所期の光学系を検査窓に配置する自覚式屈折力測定装置と、被検眼に視標を呈示する視標呈示手段と、他覚式屈折力測定装置により得られた測定デ-タを入力する入力手段と、を備える検眼装置において、他覚矯正値確認検査開始時に前記入力手段により入力された測定デ-タに基づいて矯正光学系を初期設定する矯正光学系制御手段と、測定デ-タの信頼性又は視機能異常を判断するために必要な最低視力値の視標を含む視標を呈示する視標制御手段と、を有することを特徴とする検眼装置。
IPC (2件)：
A61B 3/028 ,  A61B 3/10
FI (2件)：
A61B 3/02 A ,  A61B 3/10 N
引用特許：
審査官引用 (11件)
  • 特開昭64-070022
  • 特開昭64-070022
  • 特開平2-189124
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