特許

J-GLOBAL ID：200903039371619835

リレー装置及びこれを用いたICテスタ

発明者： 成川 健一
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-260883
公開番号（公開出願番号）：特開2003-066100
出願日： 2001年08月30日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
要約：

【要約】【課題】 安価なリレーを用いて、高周波特性がよいリレー装置及びこれを用いたICテスタを実現することを目的にする。【解決手段】 本発明は、高周波成分を含んだ信号をリレーに通過させるリレー装置に改良を加えたものである。本装置は、導電性平面、リレーが接続され、導電性平面に対して特定インピーダンスを有するストリップラインまたはマイクロストリップラインを設けるプリント基板と、このプリント基板に、リレー内部の信号経路の近傍に取付けられ、導電性平面に電気的に接続される導電性板とを具備したことを特徴とする装置である。

請求項（抜粋）：

高周波成分を含んだ信号をリレーに通過させるリレー装置において、前記リレーが接続され、導電性平面に対して特定インピーダンスを有するストリップラインまたはマイクロストリップラインを設けるプリント基板と、このプリント基板に、前記リレー内部の信号経路の近傍に取付けられ、前記導電性平面に電気的に接続される導電性板とを具備したことを特徴とするリレー装置。

Fターム (5件)：

2G132AA00 ,  2G132AE12 ,  2G132AF18 ,  2G132AJ01 ,  2G132AL19