特許
J-GLOBAL ID：200903039413182807
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-156697
公開番号（公開出願番号）：特開平8-327354
出願日： 1995年06月01日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：
【要約】【目的】 精度の高い測距情報を得る。【構成】 光源14の非駆動時に得られた受光出力により、受光手段19の複数領域それぞれにて得られた測距情報を補正し、測距対象上での反射率の差異に起因する誤差分を除去する反射率補正手段1を設け、単に測距対象物からの反射光量のみではなく、反射率をも考慮して測距情報を算出するようにしている。
請求項（抜粋）：
測距対象物へ光を投射する少なくとも一つの光源と、複数の受光領域を有し、前記測距対象物での反射光を受光する受光手段と、該受光手段の出力に基づいて前記各領域における測距情報を算出する演算手段とを備えた測距装置において、前記演算手段内に、前記光源の非駆動時に得られた受光出力により、前記複数領域それぞれにて得られた測距情報を補正し、前記測距対象上での反射率の差異に起因する誤差分を除去する反射率補正手段を設けたことを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G01C 3/06 Z
, G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
