電子機器の故障予測方法及び装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：平戸哲夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-232413
公開番号（公開出願番号）：特開平10-078464
出願日： 1996年09月03日
公開日（公表日）： 1998年03月24日
要約：

【要約】【課題】キャリブレーション対象物を備える電子機器のキャリブレーション対象物の劣化による故障を予測する電子機器の故障予測方法(例えば、ICテスタの故障予測方法)に関し、キャリブレーション対象物の劣化による故障を予測し、電子機器の修理に必要な部品・人員を前もって確保できるようにし、電子機器の修理に必要な電子機器の停止時間を必要最小限とする。【解決手段】ICテスタの各チャネルCH1、CH2・・・CH256のドライバ2-1、2-2・・・2-256について履歴ファイル7Bに格納されている差分値を統計処理し、差分値の経時的変化が正方向又は負方向のいずれか一方に進行しており、かつ、最新差分値が警告範囲内にある場合には警告を発生する。

請求項（抜粋）：

キャリブレーションの対象とされている物理量の測定値と基準値との差分値を取得することにより、前記キャリブレーションの対象とされている物理量のキャリブレーションが実行されるキャリブレーション対象物を備えてなる電子機器の前記キャリブレーション対象物の劣化による故障を予測する電子機器の故障予測方法であって、前記差分値の経時変化が正方向又は負方向のいずれか一方に進行しており、かつ、最新差分値がキャリブレーション可能な範囲内の所定値以上の範囲にあるか否かを判定する工程と、前記差分値の経時変化が正方向又は負方向のいずれか一方に進行しており、かつ、前記最新差分値が前記キャリブレーション可能な範囲内の所定値以上の範囲にある場合には、前記キャリブレーション対象物の劣化による故障を予測して警告を発生する工程とを含むことを特徴とする電子機器の故障予測方法。

IPC (7件)：

G01R 31/00 , G01D 18/00 , G01M 19/00 , G01R 31/26 , G01R 31/28 , G05B 23/02 302 , G05B 23/02

FI (7件)：

G01R 31/00 , G01D 18/00 , G01M 19/00 Z , G01R 31/26 Z , G05B 23/02 302 Y , G05B 23/02 302 P , G01R 31/28 H

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