特許
J-GLOBAL ID:200903039481961911
回路測定用端子およびその製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
山下 穣平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-056357
公開番号(公開出願番号):特開平5-218156
出願日: 1992年02月06日
公開日(公表日): 1993年08月27日
要約:
【要約】【目的】 パッドが狭ピッチ、小サイズとなり、パッド数が増大した場合でも、回路測定用端子を確実に接触させる。端子どうしの接触/短絡を防ぐ。【構成】 基板21面の法線方向と一定角度の傾きをもって、該基板21面から成長された針状結晶23を回路測定用端子として用いる。
請求項(抜粋):
基板面の法線方向と一定角度の傾きをもって、該基板面から成長された針状結晶を用いたことを特徴とする回路測定用端子。
引用特許:
審査官引用 (5件)
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回路測定用端子およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-008373
出願人:株式会社東芝, 電気化学工業株式会社
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特開平2-016404
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特開昭50-037350
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特表昭63-502786
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特開平3-209103
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