化成処理皮膜付着量の定量分析方法および装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：中濱泰光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-109554
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310906
出願日： 2001年04月09日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：

【要約】【課題】化成処理皮膜の金属材料表面の化成処理皮膜の付着量を、金属材料をサンプリングすることなく、オンラインで且つ迅速、安価に測定する事を可能とする化成処理皮膜定量分析方法およびその装置を提供する。【解決手段】金属材料表面に形成された化成処理皮膜の付着量を下記1)〜4)の手順で定量分析することを特徴とする化成処理皮膜付着量の定量分析方法。1)赤外線を収束して化成処理皮膜が形成された金属材料面に照射し、2)金属材料面上の収束した部分から反射した赤外線を、検出器の検出部へ収束させ、3)該検出部で金属材料面からの赤外線反射強度を測定し、4)得られた前記赤外線反射強度を化成処理皮膜の付着量に換算する。

請求項（抜粋）：

金属材料表面に形成された化成処理皮膜の付着量を下記1)〜4)の手順で定量分析することを特徴とする化成処理皮膜付着量の定量分析方法。1)赤外線を収束して化成処理皮膜が形成された金属材料面に照射し、2)金属材料面上の収束した部分から反射した赤外線を、検出器の検出部へ収束させ、3)該検出部で金属材料面からの赤外線反射強度を測定し、4)得られた前記赤外線反射強度を化成処理皮膜の付着量に換算する。

IPC (4件)：

G01N 21/35 , G01N 21/27 , G01N 25/18 , G01N 33/20

FI (4件)：

G01N 21/35 Z , G01N 21/27 B , G01N 25/18 H , G01N 33/20 Z

Fターム (31件)：

2G040AA02 , 2G040AB08 , 2G040BA08 , 2G040CA23 , 2G040CB09 , 2G040DA03 , 2G040DA10 , 2G040EA06 , 2G055AA02 , 2G055AA07 , 2G055DA23 , 2G055DA24 , 2G055FA01 , 2G055FA02 , 2G055FA05 , 2G059AA01 , 2G059BB10 , 2G059DD16 , 2G059EE02 , 2G059EE11 , 2G059FF08 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ01 , 2G059JJ02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ13 , 2G059JJ14 , 2G059JJ23 , 2G059KK01 , 2G059LL04

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開昭64-025039
特開昭61-086634
特開平1-169341

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