特許

J-GLOBAL ID：200903039499530985

データ処理装置及び物理量測定装置

発明者： 後藤 茂 ,  関口 敏夫 ,  小山 越太郎 ,  久保 共栄
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-141374
公開番号（公開出願番号）：特開平5-225073
出願日： 1992年06月02日
公開日（公表日）： 1993年09月03日
要約：

【要約】【目的】 EEPROMのデータの化けや喪失に対して安定性を向上させると共に速やかな起動が可能になるように改良したデータ処理装置及び物理量測定装置を提供するにある。【構成】 EEPROMに格納された補正情報或いは設定情報に従って動作するデータ処理装置、或いはこれ等の情報を用いてセンサから出力される物理量の計測値に対して演算処理をして電気信号を出力する物理量測定装置において、先のEEPROMに格納される各情報を2つのデータブロックに分けて2重に記録し、各データブロックに記録されたデータに対して所定時間おきにそれぞれサムチエックをとり、このサムチエックの値からデータ異常を検出しこの異常からの回復を行い、また各データブロックに記録されたデータの変更状態を示すEEPROMに設けられたフラグ領域のフラグから先のデータの変更状態を確認するデータ処理装置及び物理量測定装置である。

請求項（抜粋）：

EEPROMに格納された補正情報或いは設定情報に従って動作するデータ処理装置において、前記EEPROMに格納される各情報を2つのデータブロックに分けて2重に記録し、各データブロックに記録されたデータに対して所定時間おきにそれぞれサムチエックをとり、このサムチエックからデータ異常を検出しこの異常からの回復を行うことを特徴とするデータ処理装置。

IPC (4件)：

G06F 12/16 310 ,  G06F 12/16 ,  G06F 11/10 310 ,  G06F 11/30 320

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭56-169297
  
• 特開平3-241444
  
• 特開平2-245953
  
• 特開平3-250347