特許
J-GLOBAL ID：200903039560285816
射出成形機の成形品監視方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
後藤 洋介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-002169
公開番号（公開出願番号）：特開平7-205246
出願日： 1994年01月13日
公開日（公表日）： 1995年08月08日
要約：
【要約】【目的】 大容量の外部記憶装置を使用せずに成形品品質確保のためのプロセスデータ収集を可能とすること。【構成】 信号処理部12は、射出成形機に設けられた各種センサからの複数種類のプロセスデータから実績データを抽出すると共に、前記複数種類のデータからそれぞれ1ショット内の変化を示すアナログ波形を生成する。一時記憶ユニット13は、前記複数種類の実績データ及び前記アナログ波形を先入れ先出し方式にて更新しながら数ショット分一時記憶する。記憶ユニット15は、あらかじめ定められた時間間隔で前記複数種類の実績データ及び前記アナログ波形を数ショット分記憶する。良否判別ユニット14では、前記複数種類の実績データの少なくとも1種類について1ショット毎に設定器11で設定された設定値と比較して成形品の良否判別を行い、不良発生と判別した時には前記一時記憶ユニットの内容を前記記憶ユニットに記憶させるようにする。
請求項（抜粋）：
射出成形機に設けられた各種センサからの射出速度や射出圧力、スクリュ位置等を示す複数種類のプロセスデータをディジタルデータに変換して実績データを抽出すると共に、これら複数種類のディジタルデータからそれぞれ1ショット内の変化を示すアナログ波形を生成し、前記複数種類の実績データ及び前記アナログ波形を先入れ先出し方式にて更新しながら数ショット分一時記憶ユニットに記憶する一方、あらかじめ定められた時間間隔で前記複数種類の実績データ及び前記アナログ波形を数ショット分記憶ユニットに記憶し、前記複数種類の実績データの少なくとも1種類について1ショット毎にあらかじめ設定された基準値と比較して成形品の良否判別を行い、不良発生と判別した時には前記一時記憶ユニットに記憶されている数ショット分の前記実績データ及び前記アナログ波形を前記記憶ユニットに記憶することを特徴とする射出成形機の成形品監視方法。
IPC (4件)：
B29C 45/76
, B29C 45/17
, B29C 45/50
, B29C 45/77
