特許

J-GLOBAL ID：200903039589145401

検査用治具

発明者： 西岡 忠司 ,  中川 智和
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 深見 久郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-195782
公開番号（公開出願番号）：特開2001-021498
出願日： 1999年07月09日
公開日（公表日）： 2001年01月26日
要約：

【要約】【課題】 ワーク表面の検査作業を改善するとともに、ワーク表面の不良を容易かつスピーディに検査すること。【解決手段】 基台104上に回転可能に支持された回転盤106は、レバー116を矢印A方向に移動させることにより回転する。回転盤106上には、ワークの種類ごとに取替え可能な取替え治具108が固定されており、取替え治具108上のステージ110にワークが取付けられる。基台104は、レバー116を矢印B方向に移動させることにより、基台回転軸114を中心に回転する。水平照明134から照射された光は集光レンズ132で平行光となりワーク表面に照射される。集光レンズ132の高さ方向の中心は、ステージ110に取付けられたワークの表面の位置と同じ高さに調整される。

請求項（抜粋）：

検査対象となるワークを保持するための保持手段と、前記保持手段で保持された前記ワークに光を照射する照明手段とを備え、前記照明手段が照射する光の進行方向と保持された前記ワークの検査面とのなす角は、0または所定の角度より小さいことを特徴とする、検査用治具。

IPC (3件)：

G01N 21/84 ,  G01B 11/30 ,  G02F 1/13 101

FI (3件)：

G01N 21/84 D ,  G01B 11/30 A ,  G02F 1/13 101

Fターム (28件)：

2F065AA49 ,  2F065BB02 ,  2F065CC25 ,  2F065DD00 ,  2F065DD13 ,  2F065FF42 ,  2F065GG02 ,  2F065HH03 ,  2F065HH11 ,  2F065HH16 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ12 ,  2F065LL04 ,  2F065PP13 ,  2G051AA73 ,  2G051AA90 ,  2G051AB01 ,  2G051AB07 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051BB01 ,  2G051BB19 ,  2G051CA11 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2H088FA11 ,  2H088MA20