特許

J-GLOBAL ID：200903039598557356

電気光学装置及び電子機器

発明者： 内田 昌宏
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 上柳 雅誉 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-126635
公開番号（公開出願番号）：特開2003-317944
出願日： 2002年04月26日
公開日（公表日）： 2003年11月07日
要約：

【要約】【課題】 発光素子における発光量が低下する経時劣化が発生した場合や、経時劣化がバラツキをもって発生した場合に、その経時劣化を補正して画面輝度の低下や画面ムラを低減することが可能な電気光学装置及び電子機器を提供する。【解決手段】 発光素子224と、駆動素子221、223と、電源部と、画像信号源から入力される画像信号に対応する電圧を持つデータ信号を信号線を介して駆動素子に供給する信号線駆動回路と、信号線を介して所定電圧のデータ信号を前記駆動素子に供給したときに発光素子224から発せられる光を受光してその発光量を測定する受光素子110と、測定された発光量が所定基準値に近付くように画像信号を補正した後に信号線駆動回路に入力する補正回路とを備えた電気光学装置である。受光素子110が発光素子224から発せられる光を反射する反射層としても機能している。

請求項（抜粋）：

複数の発光素子と、前記発光素子に流れる駆動電流をデータ信号の電圧に応じて制御する駆動素子と、前記発光素子に前記駆動電流を前記駆動素子を介して流すための電源を電源配線を介して供給する電源部と、画像信号源から入力される画像信号に対応する電圧を持つデータ信号を信号線を介して前記駆動素子に供給する信号線駆動回路と、前記発光素子から発せられる光を受光し、その発光量を測定する受光素子と、前記画像信号源と前記信号線駆動回路との間に介在し、前記測定された発光量が所定基準値に近付くように前記画像信号を補正する補正回路と、を備え、前記受光素子が発光素子から発せられる光を反射する反射機能を有することを特徴とする電気光学装置。

IPC (10件)：

H05B 33/08 ,  G09G 3/20 621 ,  G09G 3/20 624 ,  G09G 3/20 631 ,  G09G 3/20 642 ,  G09G 3/20 670 ,  G09G 3/20 680 ,  G09G 3/30 ,  H05B 33/12 ,  H05B 33/14

FI (11件)：

H05B 33/08 ,  G09G 3/20 621 M ,  G09G 3/20 624 B ,  G09G 3/20 631 V ,  G09G 3/20 642 P ,  G09G 3/20 670 J ,  G09G 3/20 680 G ,  G09G 3/30 J ,  G09G 3/30 K ,  H05B 33/12 B ,  H05B 33/14 A

Fターム (13件)：

3K007AB11 ,  3K007AB17 ,  3K007DB03 ,  3K007FA01 ,  3K007GA04 ,  5C080AA06 ,  5C080BB05 ,  5C080DD04 ,  5C080DD29 ,  5C080EE28 ,  5C080FF11 ,  5C080JJ02 ,  5C080JJ05