全光束測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：滝本智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-126154
公開番号（公開出願番号）：特開平8-320253
出願日： 1995年05月25日
公開日（公表日）： 1996年12月03日
要約：

【要約】【目的】ランプの直射照度成分の除去を、積分球内の輝度分布特性データを測定して、輝度分布特性データから数値計算によって行うことにより、遮光板を用いることなく間接照度を測定でき、上記の測定誤差を発生させることなく、全光束の測定精度を向上させる。【構成】積分球1の内壁面の一部に設けられた測光窓2と、測光窓2より観測される積分球1内壁面の輝度分布を測定するための撮像装置3と、記憶装置4で記録された全光束標準ランプ6の輝度分布データと撮像装置3で得られた被測定ランプ7の測定データを演算して全光束を算出する演算装置5とから構成される全光束測定装置である。

請求項（抜粋）：

積分球と、前記積分球の内壁面の一部に設けられた測光窓と、前記測光窓より観測される前記積分球内壁面の輝度分布を測定するための撮像装置と、前記撮像装置の測定データを演算して全光束を算出する演算装置とを少なくとも備えたことを特徴とする全光束測定装置。

IPC (3件)：

G01J 1/02 , G01J 1/00 , G01M 11/00

FI (4件)：

G01J 1/02 A , G01J 1/02 F , G01J 1/00 F , G01M 11/00 T

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