特許
J-GLOBAL ID:200903039756031804

連続断面像を得るための顕微鏡用生体試料の作成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 工業技術院機械技術研究所長
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-087986
公開番号(公開出願番号):特開平7-270286
出願日: 1994年03月31日
公開日(公表日): 1995年10月20日
要約:
【要約】【目的】 連続断面像用の多数の観察試料断面を容易にかつ良好に形成することができ、大きな生体試料の微細な連続構造を示すことができる連続断面像を得るための顕微鏡用生体試料の作成方法を提供すること。【構成】 生体の試料あるいは生体から摘出した試料を樹脂に包埋し、包埋体6から前後・上下・左右に隣合う多数の観察試料断面7を順次形成する顕微鏡用試料の作成方法であって、一つの観察試料断面7を形成する毎に包埋体6の観察試料断面形成部位の表面を機械研磨して鏡面状にし、次に鏡面状の観察試料断面形成部位の表面をプラズマ・ビームで照射してエッチングして観察試料断面7を形成する。すなわち、まず樹脂包埋された生体試料を機械により研磨を行い鏡状の断面を作成する。次に鏡状断面をプラズマ・ビーム法によりエッチングを行い生体軟構造の断面を浮き彫りにする二段階方式(研磨及びエッチング)である。
請求項(抜粋):
生体の試料あるいは生体から摘出した試料を樹脂に包埋し、前記包埋体から隣合う多数の観察試料断面を順次形成する顕微鏡用試料の作成方法であって、一つの観察試料断面を形成する毎に前記包埋体の観察試料断面形成部位の表面を機械研磨して鏡面状にし、次に前記鏡面状の前記観察試料断面形成部位の表面をプラズマ・ビームで照射してエッチングして前記観察試料断面を形成することを特徴とする連続断面像を得るための顕微鏡用生体試料の作成方法。
IPC (3件):
G01N 1/28 ,  G01N 1/36 ,  G01N 1/32
FI (3件):
G01N 1/28 F ,  G01N 1/28 J ,  G01N 1/28 R

前のページに戻る