特許
J-GLOBAL ID:200903039765196476

X線装置の試料支持装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 横川 邦明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-056753
公開番号(公開出願番号):特開平9-229834
出願日: 1996年02月20日
公開日(公表日): 1997年09月05日
要約:
【要約】【課題】 試料に低温ガスを吹き付けて測定を行うX線装置に用いられる試料支持装置において、試料を支持するための試料支持部材に測定を害する程度以上の多量の霜が付着するのを防止する。【解決手段】 試料SにX線源FからX線を照射してその試料Sから出るX線をX線検出器4で検出するX線装置に用いられる試料支持装置である。試料Sは、ガラス棒11の外周面に熱伝導率の高い銀ペースト12を塗布して形成された試料支持部材9の上端に固着されて支持される。ノズル15から噴出する冷媒ガスG1,G2が試料Sへ吹き付けられて試料Sの温度が低温に保持されるとき、銀ペースト12の熱伝導性の働きにより、冷媒ガスが当たる部分の試料支持部材9に大きな霜が成長することを防止する。
請求項(抜粋):
試料にX線を照射すると共に試料から出たX線をX線検出手段によって検出するX線装置に用いられる試料支持装置であって、試料を支持する試料支持部材と、試料支持部材の外周面に積層されていて試料支持部材よりも熱伝導率の高い被覆材料とを有することを特徴とするX線装置の試料支持装置。
IPC (2件):
G01N 1/28 ,  G01N 23/20
FI (2件):
G01N 1/28 W ,  G01N 23/20

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