特許
J-GLOBAL ID：200903039771989917
非線形光学定数測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-146015
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015088
出願日： 1994年06月28日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：
【要約】【目的】 粉末試料を用いても結果が平均粒径のコヒーレンス長に対する相対的大きさや、バルクでの位相整合の可否によらない簡便で正確な評価装置を提供すること。【構成】 基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに一定圧力以上の力で押しつけ、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することにより非線形光学定数を評価する。
請求項（抜粋）：
試料を全反射界面に押さえつけ、試料に光ビームを照射したときの全反射によるエバネッセント波を基本波とし、試料から発生する高次高調波を、屈折率の高い媒体を介して観測することを特徴とする非線形光学定数評価装置において、半円柱型全反射プリズムの手前に、プリズム内での光が平行になるようにコリメートするシリンドリカルレンズを具備することを特徴とする非線形光学定数評価装置。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G02F 1/35 503
, G02F 1/37
