特許
J-GLOBAL ID:200903039801915964

メモリ試験方式

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山川 政樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-352976
公開番号(公開出願番号):特開平5-165737
出願日: 1991年12月17日
公開日(公表日): 1993年07月02日
要約:
【要約】【目的】 同一アドレスに対して読み出し書き込み試験を行うため内容を破壊せず、アドレス制御プロセッサを介さないで高速でメモリ試験を行うようにする。【構成】 プロセッサ制御部1と診断プロセッサ部2で構成され、試験アドレスに切り換える手段(5)と、試験アドレスを保持する手段(6)と、メモリ装置から最初の読み出しを行いその内容を保持する手段(7)と、同一アドレスに対して二度目の読み出しを行いその内容を保持する手段(8)と、第1の内容と第2の内容とを比較する手段(9)と、比較した結果の内容を診断プロセッサ部2に報告する手段(10)により構成される。
請求項(抜粋):
ソフトウェア命令を実行するプロセッサ部とこのプロセッサ部の診断制御を行う診断プロセッサ部とで構成され、前記プロセッサ部内のメモリ装置の試験を前記プロセッサ部が行う試験方式であって、前記プロセッサ部は前記診断プロセッサ部から前記メモリ装置に対してメモリ試験指示を受け取るとメモリ試験アドレスに切り替える切替手段と、前記試験アドレスを保持する保持手段と、前記メモリ装置に対して最初の読み出しを行い前記読み出し内容を保持する第1のデータ保持手段と、この第1のデータ保持手段の内容を同一アドレスに対して書き込み前記メモリ装置の同一アドレスに対して二度目の読み出しを行い,前記読み出し内容を保持する第2のデータ保持手段と、前記第1のデータ保持手段と前記第2のデータ保持手段とを比較する比較手段と、この比較手段により不一致を検出したとき前記メモリ試験を司る前記診断プロセッサ部に対して障害を報告する手段とを備え、前記診断プロセッサ部は前記メモリ試験指示を送出すると障害報告または終了報告が送られてくるまで待機し、前記プロセッサ部は障害発生またはメモリ試験終了になるまで前記試験アドレスを更新し前記メモリ試験をし続け、前記プロセッサ部は前記障害を報告する手段により障害を報告するようにしたことを特徴とするメモリ試験方式。
IPC (4件):
G06F 12/16 330 ,  G06F 11/22 320 ,  G06F 11/22 350 ,  G06F 15/78 510
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭57-205900
  • 特開昭59-166880

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