特許

J-GLOBAL ID：200903039818260953

スピン偏極電子を用いた陽電子スピン偏極率の測定法

発明者： 平出 哲也 ,  熊田 高之
出願人/特許権者： 日本原子力研究所
代理人 (6件)： 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  桜井 周矩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-348998
公開番号（公開出願番号）：特開2005-114544
出願日： 2003年10月08日
公開日（公表日）： 2005年04月28日
要約：

【課題】 偏極陽電子ビームの偏極率を評価することは偏極陽電子ビームを利用するためには必要不可欠であるが、その比較的短時間で行える評価方法は存在しないので、比較的短時問で偏極陽電子ビームの偏極率の評価が行えることが必要である。【解決手段】 極低温、強磁場中で不対電子を偏極させ、入射偏極陽電子と反応させることにより形成される結合状態、ポジトロニウムのスピン状態を陽電子消滅法により観測し、偏極陽電子ビームの偏極率の評価を行う方法。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

極低温、強磁場中で不対電子を偏極させ、入射偏極陽電子と反応させることにより形成される結合状態、ポジトロニウムのスピン状態を陽電子消滅法により観測し、偏極陽電子ビームの偏極率の評価を行う方法。

IPC (1件)：

G01T1/32

FI (1件)：

G01T1/32

Fターム (6件)：

2G088EE29 ,  2G088EE30 ,  2G088FF04 ,  2G088FF15 ,  2G088FF18 ,  2G088FF20