特許
J-GLOBAL ID：200903039869589402
拡散反射光測定用試料サンプラ
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-144344
公開番号（公開出願番号）：特開2000-338013
出願日： 1999年05月25日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
要約：
【要約】【課題】 安価で、且つ多くの拡散反射光を検出することができる試料サンプラを提供する。【解決手段】 不規則な微小凹凸を有するセラミック製の基板11の表面に金属を蒸着して薄膜層14のヤスリ面を形成する。このヤスリ面で固体試料を擦ると、凸部12で試料が破砕され、凹部13に粉体試料15が保持される。試料が付着したヤスリ面に測定光を照射すると、粉体試料15の内部を透過した光が薄膜層14の表面に当たって反射し、更に粉体試料15の内部を透過して外部へと出てゆく。光が薄膜層14表面で吸収されないので拡散反射光の強度が増すとともに、この試料サンプラは大量生産に向くので安価になる。
請求項（抜粋）：
拡散反射法を利用した分光分析において、試料を微粒子化するとともに表面に保持し、その表面に光を照射して測定を行うために用いられる試料サンプラであって、多数の微小凹凸が形成された粗面を有する基体と、その基体の粗面を被覆して設けられた金属膜と、を備えることを特徴とする拡散反射光測定用試料サンプラ。
IPC (4件)：
G01N 1/04
, G01N 1/28
, G01N 21/01
, G01N 21/35
G01N 1/04 V
, G01N 21/01 B
, G01N 21/35 Z
, G01N 1/28 T
2G059AA01
, 2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059DD01
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF06
, 2G059GG00
, 2G059HH01
, 2G059KK01
