特許

J-GLOBAL ID：200903039886181522

微粒子分級器

発明者： タニソン,ドナルド イー.,ザ サード ,  チャーチ,ステファニー イー. ,  レマン,グレゴリー ダブリュ. ,  トロイク,カール エル.,ジュニア
出願人/特許権者： キャボット コーポレイション
代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-517101
公開番号（公開出願番号）：特表平8-505834
出願日： 1994年01月14日
公開日（公表日）： 1996年06月25日
要約：

【要約】ガス状媒体中に懸濁した汚染物粒子からヒュームドシリカのような微粒子を分離するための方法及び装置は、頂部(14)及び底部(15)を有する容器(12)で、夫々の部分が排出口を有する容器へ予め定められた速度で粒子懸濁物(10)を導入することを含んでいる。次に粒子懸濁物を、予め定められた角度で容器内に配置したそらせ板(20)へ送る。そらせ板は粒子懸濁物がその板に衝突した後、容器内で均一に分布するように角度が付けられている。微粒子は容器の頂部へ上昇し、汚染物粒子及び残留微粒子は容器の底部へ沈降する。微粒子、及び汚染物粒子と残留微粒子は、夫々頂部及び底部の排出口(16、17)から取り出す。

請求項（抜粋）：

ガス流中に懸濁した汚染物粒子から約45.0ミクロンより小さな公称粒子直径を有するヒュームドシリカを分離する方法において、 頂部及び底部を有する容器で、夫々の部分が排出口を有する容器中へ前記ガス流を予め定められた速度で導入し、 前記ガス流を予め定められた角度で前記容器内に配置されたそらせ板へ送り、然も、前記角度は前記ガス流が前記板と衝突した後、前記容器内で均一に分布されるような角度になっており、 前記ヒュームドシリカは前記容器頂部へ上昇し、前記汚染物粒子及び残留ヒュームドシリカは前記容器底部へ沈降し、 前記ヒュームドシリカを前記頂部排出口を通って取り出し、次いで 前記汚染物粒子及び残留ヒュームドシリカを前記底部排出口を通って取り出すことからなる分離方法。

IPC (2件)：

C01B 33/18 ,  B07B 13/05