特許
J-GLOBAL ID：200903039917004942
抵抗試験回路
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川久保 新一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-334168
公開番号（公開出願番号）：特開平9-152453
出願日： 1995年11月29日
公開日（公表日）： 1997年06月10日
要約：
【要約】【課題】 電圧源の電圧値が変動した場合でも抵抗値を正しく測定することができる抵抗試験回路を提供することを目的とするものである。【解決手段】 被測定抵抗と第1の基準抵抗との直列回路に電圧源を接続し、第2の基準抵抗とスイッチ回路とによる直列回路を被測定抵抗に並列接続し、被測定抵抗の両端電圧または第1の基準抵抗の両端電圧を電圧測定回路によって測定し、スイッチ回路が開放されているときに電圧測定回路が測定した第1の電圧値と、スイッチ回路が閉成されているときに電圧測定回路が測定した第2の電圧値との比を演算し、この演算結果に応じて、被測定抵抗の値を求めるものである。
請求項（抜粋）：
被測定抵抗と第1の基準抵抗とが直列接続されている第1の直列回路と;第2の基準抵抗とスイッチ回路とが直列接続され、上記被測定抵抗に並列接続されている第2の直列回路と;上記被測定抵抗の両端電圧または上記第1の基準抵抗の両端電圧を測定する電圧測定回路と;上記スイッチ回路が開放されているときに上記電圧測定回路が測定した第1の電圧値と、上記スイッチ回路が閉成されているときに上記電圧測定回路が測定した第2の電圧値との比を演算し、この演算結果に応じて、上記被測定抵抗の値を求める演算回路と;を有することを特徴とする抵抗試験回路。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 27/02 R
, H04B 3/46 B
