特許
J-GLOBAL ID：200903039932471140
表示パネル検査装置及び検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 純之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-053884
公開番号（公開出願番号）：特開平8-068976
出願日： 1995年03月14日
公開日（公表日）： 1996年03月12日
要約：
【要約】【目的】多数の画素からなる表示パネル用液晶セル自体の検査を高精度、高速で行うことを目的とする。【構成】被検査パネルを後方から照明し、表示パネル上に形成されている検査用のパターンを順次撮像センサで撮像する基本構成を有し、撮像センサ上でパターン像に既知のぼけ量を加えた後、sinc関数を用いた畳み込み演算を行い、再標本化を行い画像処理を実行する。【効果】上記処理により、表示パネル側と撮像センサ側の画素配列のずれによる測定誤差の補正が可能となる。
請求項（抜粋）：
多数の画素からなる表示パネルの検査装置において、多数の画素のうちの一部のみを選択的に駆動する選択的画素駆動回路と、表示パネル上に形成されたパターンの映像を取り込むためのセンサと、該パネルの画素強度の不均一性を検出するための画像処理部とからなることを特徴とする表示パネル検査装置。
IPC (5件)：
G02F 1/13 101
, G01B 11/30
, G01M 11/00
, G01R 31/00
, G09F 9/00 352
