特許

J-GLOBAL ID：200903039942805658

しきい値を有する信号入力回路のテスト回路

発明者： 横山 正浩
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-281671
公開番号（公開出願番号）：特開平6-130124
出願日： 1992年10月20日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：

【要約】【目的】 しきい値を有する信号入力回路のしきい値のテストをソフトウェアの処理を必要とすることなしに高速で実行可能であり、また複数の信号入力回路がワンチップ上に備えられている場合にもチップ上での占有面積を小さく出来るテスト回路の提供を目的とする。【構成】 入力信号の電圧を所定のしきい値で2値信号に変換して論理回路、たとえばレジスタ8に供給するしきい値を有する信号入力回路、たとえばオペレーションアンプ3のテスト回路であって、レジスタ8の入力端と出力端との間をスイッチ9を介して接続する信号線91, 92を備え、オペレーションアンプ3に入力された信号の電圧と、スイッチ9をオン状態にすることによりオペレーションアンプ3から信号線91, スイッチ9,信号線92を介して出力される出力信号の値とに基づいてオペレーションアンプ3のしきい値を判定する。

請求項（抜粋）：

入力信号の電圧を所定のしきい値で2値信号に変換して論理回路に供給する信号入力回路のテスト回路において、前記論理回路の入力端と出力端との間をスイッチを介して接続する短絡手段を備え、前記信号入力回路に入力された信号の電圧と、前記スイッチをオン状態にすることにより前記信号入力回路から前記短絡手段を介して出力される出力信号の値とに基づいて、前記信号入力回路のしきい値を判定すべくなしてあることを特徴とするしきい値を有する信号入力回路のテスト回路。

FI (2件)：

G01R 31/28 C ,  G01R 31/28 M

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-209181
  
• 特開平1-111365
  
• 特開平1-295180
  
• 特開平3-269280