平坦度測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：田澤博昭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-177783
公開番号（公開出願番号）：特開平5-001912
出願日： 1991年06月24日
公開日（公表日）： 1993年01月08日
要約：

【要約】【目的】帯状体表面の平坦度を測定するのに際して帯状体の振動による誤差を除去することのできる平坦度測定装置を得る。【構成】帯状体1の幅方向に沿って配された複数個の傾き測定器12により、帯状体1の長手方向の傾きを、帯状体移動距離測定器13で測定される測定区間毎に測定し、各傾き測定器12の各測定値に基づいてそれぞれ平均値演算器17で平坦値を求め、この平均値から急峻度を演算する。さらに各急峻度から平坦度演算器14で平坦度を演算する。【効果】帯状体の振動による影響を除去した平坦度を得ることができる。

請求項（抜粋）：

長手方向に移動する帯状体表面の幅方向に沿う複数個所における長手方向の傾きを測定する傾き測定器と、上記傾き測定器から得られる測定値より各個所についての平均値を求め各平均値に基づいて各個所における急峻度を演算する平均値演算器とを備えた平坦度測定装置。

IPC (4件)：

G01B 21/30 101 , B21B 37/00 BBH , B21B 37/00 116 , G01B 11/30 101

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