特許

J-GLOBAL ID：200903040032399166

計測器の校正作業管理システム

発明者： 河嶌 健二
出願人/特許権者： オリックス・レンテック株式会社
代理人 (1件)： 大原 拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-369635
公開番号（公開出願番号）：特開平11-194162
出願日： 1997年12月29日
公開日（公表日）： 1999年07月21日
要約：

【要約】【課題】 試験手順書および試験後の試験成績書などの作成をコンピュータ化し、計測器の校正作業をより合理的かつ正確に行なうことができるようにする。【解決手段】 ホストコンピュータ10と、これに接続される作業者用のパソコン11とから基本的に構築され、各種の計測器を試験評価機器(標準器)にて校正する校正作業のための管理システムであって、ホストコンピュータ10には、被校正計測器ごとに設定された複数の試験項目と、その校正作業に供される複数の標準器とが登録されており、パソコン11より被校正計測器の機種名が入力されると、ホストコンピュータ10は、同被校正計測器に関連する試験項目および標準器を読み出してパソコン11のディスプレイに表示し、同パソコン11側にてその試験項目および標準器を選択して試験手順書を作成できるようにした。

請求項（抜粋）：

ホストコンピュータと、同ホストコンピュータに接続される作業者用のパーソナルコンピュータ(パソコン)とから構築され、各種の計測器を試験評価機器にて校正する校正作業のための管理システムであって、上記ホストコンピュータのデータファイルには、校正対象としての上記計測器(被校正計測器)ごとに設定された複数の試験項目と、その校正作業に供される複数の上記試験評価機器の機器名とが登録されており、上記パソコンより上記被校正計測器の機種名が入力されると、上記ホストコンピュータは、上記データファイルから同被校正計測器に関連する試験項目および試験評価機器名を読み出して上記パソコンのディスプレイに表示し、同パソコン側にて上記試験項目および試験評価機器名を選択して校正作業手順書を作成可能としたことを特徴とする計測器の校正作業管理システム。

IPC (3件)：

G01R 35/00 ,  G01D 7/00 ,  G01R 31/00

FI (3件)：

G01R 35/00 A ,  G01D 7/00 F ,  G01R 31/00