特許

J-GLOBAL ID：200903040068416660

粒子数測定装置

発明者： 仲田 重範 ,  佐藤 信太郎 ,  神谷 誠作
出願人/特許権者： ウシオ電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-133968
公開番号（公開出願番号）：特開平7-083820
出願日： 1994年05月25日
公開日（公表日）： 1995年03月31日
要約：

【要約】【目的】 大気中または特定のガス中に含まれる微粒子を検出する凝縮核を使った測定器において、粒子検出部等で凝縮蒸気が光学系等に凝結して付着汚染することを防止するものである。【構成】 常温で凝縮する凝縮用液体が収容された飽和蒸気室において飽和蒸気が加えられたガスを室温の凝縮部に導いて、該蒸気を粒子を核として凝縮させ、後続の粒子検出部で粒子を測定するとき、該検出部、連結パイプ、ノズルの温度を、少なくとも凝縮部の温度以上に保つことにより、凝縮蒸気が検出部の光学系等に付着汚染しないようにする。

請求項（抜粋）：

常温で凝縮する液体が収容されて、この液体を加熱することにより飽和蒸気を作る飽和蒸気室と、粒子を含むガスを当該飽和蒸気と混合させて、かかる混合ガスを凝縮することにより粒子を成長させる凝縮部と、当該成長した粒子の数を測定する測定部と、よりなる粒子数測定装置において、前記測定部には、測定部の温度を少なくとも凝縮部の温度にまで加熱する手段を有することを特徴とする粒子数測定装置。