特許

J-GLOBAL ID：200903040122420717

疲労試験機

発明者： 安田 善一
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-198771
公開番号（公開出願番号）：特開平10-038780
出願日： 1996年07月29日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：

【要約】【課題】 試験途中の周波数切り替え時に制御量が過大あるいは過小にならないようにした疲労試験機を提供する。【解決手段】 負荷試験波形は振幅、平均値および周波数により規定される。供試体を負荷するアクチュエータの制御量は試験波形に追従するようにフィードバック制御される。試験周波数に最適な制御ゲインが予めテーブルとして記憶され、試験周波数が切り替えられた時、切り替わる前の周波数に最適な制御ゲインと切り替え後に最適な制御ゲインの双方をテーブルから読み込み、両ゲインの比にしたがって負荷試験波形の振幅と平均値を補正する。

請求項（抜粋）：

供試体を負荷するアクチュエータの制御量が振幅、平均値および周波数により規定される負荷試験波形に追従するようにフィードバック制御を行なう疲労試験機において、前記周波数が切り替えられた時、切り替わる前の周波数に最適な制御ゲインと切り替え後に最適な制御ゲインにしたがって前記負荷試験波形の振幅と平均値を補正することを特徴とする疲労試験機。