特許

J-GLOBAL ID：200903040134385836

粒度分布測定装置

発明者： 島岡 治夫
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 杉谷 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-170248
公開番号（公開出願番号）：特開平10-019758
出願日： 1996年06月28日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：

【要約】【課題】 測定試料の粒子群について、物性情報も得られるようにした粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 レーザ光源により測定試料の粒子群にレーザ光を照射する一方、レーザ光検出センサにより空間的な光強度分布データを検出するとともに、粒度分布データ演算求出部14により粒度分布データを求出してから粒度分布データに従って得られる粒度分布測定結果をTVモニタ19に映像表示するよう構成された粒度分布測定装置において、複数の測定試料の各光強度分布グラフを得るとともに、これらのグラフをTVモニタ19の画面に重畳して映し出す光強度分布重畳描画機能を備えていることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

測定試料である粒子群にレーザ光を照射する光照射手段と、前記粒子群による回折/散乱光を検出する光検出手段と、前記光検出手段から得られる回折/散乱光の空間的な光強度分布データに基づきデータ処理を行って前記試料についての粒度分布データを求出する演算求出手段と、演算求出された粒度分布データに従って得られる粒度分布測定結果を映像表示する映像表示手段とを備えている粒度分布測定装置において、複数の測定試料についての各光強度分布データに従って各々の光強度分布グラフを得るとともに、これらのグラフを前記映像表示手段の画面に重畳して映し出す光強度分布重畳描画手段を備えていることを特徴とする粒度分布測定装置。