特許
J-GLOBAL ID：200903040148485540
感光体の表面変位測定方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-144664
公開番号（公開出願番号）：特開平5-340744
出願日： 1992年06月05日
公開日（公表日）： 1993年12月21日
要約：
【要約】【目的】感光体の表面変位測定方法および装置において1対の光学センサを用いて非接触式の廉価で測定精度の高いものを得る。【構成】定盤2に載置された回転テーブル11にフランジ12を介して感光体1を直立させ、基準円柱棒5を定盤2上に磁気スタンド13を介して垂直にかつ感光体1に平行に直立させ、この感光体1と基準円柱棒5を取囲む光センサの発光部7と受光部8はコ字状の移動台6の先端に取付けて相正対させ、この移動台6を定盤2に垂直植設した2本のガイドレール10に嵌め上下動可能のようにし、感光体1と基準円柱棒5との間にスペーサ14を差し込み感光体1と基準円柱棒5の両先端部にゴムバンド15を嵌めて軟固定する。
請求項（抜粋）：
被測定感光体と基準円柱棒とを互いに平行になるように対向させて定盤上に垂直に直立させ、この被測定感光体の外周面の一部とこれに対向している基準円柱棒の外周面の一部とで光路を遮るように互いに対向して配置された発光部と受光部とよりなる1対の光センサを設け、前記発光部から受光部に向けて光を発射しながら前記光センサを上下方向に同時に移動し、この時受光部が受ける光量の変化から変位量を求めることを特徴とする感光体の表面変位測定方法。
IPC (2件)：
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