1つ又は複数の内視鏡顕微鏡検査法を使用してデータを生成するシステム及び方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：青木篤 , 鶴田準一 , 島田哲郎 , 水谷好男 , 伊坪公一
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-551502
公開番号（公開出願番号）：特表2009-523574
出願日： 2007年01月12日
公開日（公表日）： 2009年06月25日
要約：

サンプルの少なくとも一部分の画像を生成する典型的なシステム及び方法を提供可能である。例えば、このシステム及び方法の1つの典型的な実施例によれば、少なくとも1つの構成を使用することにより、サンプルから少なくとも1つの第1電磁放射を、そして、基準から少なくとも1つの第2電磁放射を受光可能である。この構成及び基準は、内視鏡エンクロージャ内に提供可能である。第1及び第2電磁放射の関数として、一部分と関連付けられた画像データを生成可能である。別の実施例においては、このようなサンプルの一部分の画像を生成する内視鏡構成を提供可能である。内視鏡構成は、サンプルから少なくとも1つの電磁放射を受光するように構成されていると共に、内視鏡構成の内視鏡エンクロージャの内部かつその一端に位置している少なくとも1つの干渉計構成を包含可能である。更に別の典型的な実施例によれば、少なくとも1つの第1リンニク干渉計構成(少なくとも1つの第2ファイバ構成が、少なくとも1つの第1構成と光学的な通信状態にある)を提供可能である。第2構成は、第1電磁放射を第1構成に伝送するように構成可能である。第1構成は、電磁放射と関連付け可能であるサンプルからの追加電磁放射を受光するように構成可能である。第1構成は、少なくとも1つの第2電磁放射と関連付けられた少なくとも1つの第3電磁放射を少なくとも1つの第2構成に転送するように構成可能である。

請求項（抜粋）：

サンプルの少なくとも一部分の画像を生成するシステムであって、前記サンプルから少なくとも1つの第1電磁放射を受光すると共に、基準から少なくとも1つの第2電磁放射を受光するように構成された少なくとも1つの第1構成であって、前記少なくとも1つの第1構成及び前記基準は、内視鏡エンクロージャ内に備えられる、少なくとも1つの第1構成と、前記第1電磁放射及び前記第2電磁放射の関数として、前記少なくとも一部分と関連付けられた画像データを生成するように構成された少なくとも1つの第2検出構成と、を備えるシステム。

IPC (2件)：

A61B 1/00 , G01N 21/17

FI (2件)：

A61B1/00 300D , G01N21/17 625

Fターム (25件)：

2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059BB14 , 2G059EE05 , 2G059EE09 , 2G059FF01 , 2G059FF03 , 2G059FF09 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG10 , 2G059HH01 , 2G059JJ02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059KK04 , 2G059LL01 , 4C061FF40 , 4C061HH51

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