特許
J-GLOBAL ID:200903040241063248

材料試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 英生 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-269931
公開番号(公開出願番号):特開2001-091429
出願日: 1999年09月24日
公開日(公表日): 2001年04月06日
要約:
【要約】【課題】 パルス性ノイズによる試験機の運転停止を防止する。【解決手段】 試験片33の変位を測定する変位センサ34あるいは試験片33に印加される荷重を測定する荷重センサ35の出力は、それぞれ、センサ用アンプ17、15を介して、A/D変換器18、16で所定のサンプリング周期ごとにA/D変換され、加算部12において関数発生器11からの運転目標信号から減算され、該誤差信号がゼロとなるようにフィードバック制御される。リミッタ手段20は、前記A/D変換器18、16から前記サンプリング周期ts毎に出力されるセンサ出力信号が、予め定めた所定のリミット値を、連続して所定の回数上回ったことを検出して、試験の停止を指示する停止信号を出力する。これにより、パルス性ノイズにより試験機が停止することを防止できる。
請求項(抜粋):
試験片に荷重を印加し、そのときの試験片の挙動を観測する材料試験装置であって、前記試験片の変位を測定する変位センサあるいは前記試験片に印加される荷重を測定する荷重センサの少なくとも一方の出力を所定のサンプリング周期でサンプリングするサンプリング手段と、前記サンプリング手段の出力が、予め設定された所定の回数だけ連続して所定の値を越えたことを検出するリミッタ手段と、前記リミッタ手段の出力により、当該材料試験を停止させる停止手段とを有することを特徴とする材料試験装置。
Fターム (6件):
2G061AA01 ,  2G061AB01 ,  2G061DA03 ,  2G061DA07 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02

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