特許
J-GLOBAL ID：200903040277184173

ゼロ交差に基づく群遅延を測定するためのシステム及び方法

発明者：
ボーデン・スザファニック

ボーデン・スザファニック について

, 
ダグラス・エム・バーニー

ダグラス・エム・バーニー について


出願人/特許権者：
アジレント・テクノロジーズ・インク

アジレント・テクノロジーズ・インク について


代理人 (1件)： 加藤 公久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-130478
公開番号（公開出願番号）：特開2003-028753
出願日： 2002年05月02日
公開日（公表日）： 2003年01月29日
要約：
【要約】【課題】光学コンポーネントの群遅延を効率よく、正確に測定するためのシステム及び方法の提供【解決手段】光学被測定物(DUT)の群遅延を測定するためのシステムまたは方法において、群遅延測定用の干渉計で用いられる入力光信号に生じる一様でない周波数変化を補償するために、テスト干渉計と連携した光周波数カウンタを利用する。DUTの群遅延は、入力光信号からテスト干渉計によって生成されるAC結合ヘテロダインビート信号のゼロ交差を用いて測定される。群遅延の測定において、入力光信号の一様でない変化によるヘテロダインビート信号の位相変化は、入力光信号の光周波数の測定値により補償される。光周波数は、光周波数カウンタにより検出され、検出された光周波数は入力光信号の一様でない周波数変化を示す。
請求項（抜粋）：
光学DUTの群遅延を測定する方法であって、前記光学DUTを含むテスト干渉計に対して、周波数が時間の経過につれて変動する入力光信号を発生するステップと、前記テスト干渉計からのDUTヘテロダイン・ビート信号のDUTゼロ交差を検出するステップと、DUTゼロ交差関数の時間と光周波数の一方に関して、前記DUTゼロ交差によって定義される前記DUTゼロ交差関数の導関数を用いて、前記光学DUTの群遅延を計算するステップが含まれている、方法。
Fターム (1件)：
2G086EE12
引用特許：
審査官引用 (4件)
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