特許

J-GLOBAL ID：200903040279657397

IC測定治具

発明者： 長谷川 義栄 ,  長谷川 昌志
出願人/特許権者： 株式会社日本マイクロニクス
代理人 (1件)： 鈴木 利之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-043369
公開番号（公開出願番号）：特開平7-229949
出願日： 1994年02月18日
公開日（公表日）： 1995年08月29日
要約：

【要約】【目的】 IC保持体とプローブ針支持体とから構成することにより、ICをIC保持体に保持した状態で搬送可能にするととともに、ICからテスタまでの距離をなるべく短くして、できるだけ現実の実装状態に近い状態でICを測定できるようにする。【構成】 IC保持体10の上枠14の上下動に連動してリード押さえ18が開閉する。ICの長方形パッケージの短辺側は1対のサイドガイド20に案内され、長辺側に突き出たリードはリードガイドに案内される。リード押さえ18が閉じるとICのセットが完了する。プローブ針支持体12には多数のプローブ針22が露出した状態で針押さえ24に配列固定されている。IC保持体10とプローブ針支持体12はガイドピン26によって位置決めされる。32個のIC保持体10をキャリアに搭載し、32個のプローブ針支持体12を支持台に固定すれば、32個のICを同時にプローブ針に接触させることができる。

請求項（抜粋）：

複数のリードを有するICを着脱可能に保持できるIC保持体と、前記リードの配列に対応して配置された複数のプローブ針を露出した状態で支持するプローブ針支持体とからなり、ICを保持した前記IC保持体を前記プローブ針支持体に位置決め可能に装着することにより前記リードが前記プローブ針に接触することを特徴とするIC測定治具。

IPC (4件)：

G01R 31/26 ,  G01R 1/073 ,  H01L 21/66 ,  H01R 33/76

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平3-051776
  
• ICソケット
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-126791   出願人：日本電気株式会社