特許
J-GLOBAL ID：200903040297379710
位相固定ループ(PLL)性能試験器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松田 正道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-231608
公開番号（公開出願番号）：特開平5-072244
出願日： 1991年09月11日
公開日（公表日）： 1993年03月23日
要約：
【要約】【目的】 引き込み範囲及び保持範囲の測定に手間がかからず、正確に測定できる位相固定ループ性能試験器を提供することを目的とする。【構成】 測定対象である位相固定ループ1の引き込み範囲及び保持範囲を測定するための試験信号を周波数を変化させながら発生し、位相固定ループ1に入力する試験信号発生手段30と、試験信号発生手段30が発生した試験信号及び位相固定ループ1のフィードバック信号を入力し、それら2つの信号のロック状態を判定するロック状態判定手段6と、試験信号の周波数を変化させたときに、ロック状態判定手段6がロック状態を判定して、非ロック状態からロック状態及びロック状態から非ロック状態に変化するときの、試験信号の周波数を検出する周波数検出手段5とを備える。
請求項（抜粋）：
測定対象である位相固定ループの引き込み範囲及び保持範囲を測定するための試験信号を周波数を変化させながら発生し、前記位相固定ループに入力する試験信号発生手段と、前記試験信号発生手段が発生した試験信号及び前記位相固定ループのフィードバック信号を入力し、それら2つの信号のロック状態を判定するロック状態判定手段と、前記試験信号の周波数を変化させたときに、前記ロック状態判定手段がロック状態を判定して、非ロック状態からロック状態及びロック状態から非ロック状態に変化するときの、前記試験信号の周波数を検出する周波数検出手段とを備えたことを特徴とする位相固定ループ性能試験器。
IPC (2件)：
引用特許：
前のページに戻る
