特許
J-GLOBAL ID：200903040324759520
磁気抵抗効果ヘッドの検査方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 恵一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-319287
公開番号（公開出願番号）：特開平6-150264
出願日： 1992年11月05日
公開日（公表日）： 1994年05月31日
要約：
【要約】【目的】 MRヘッドを単体として完成させる前に検査処理が行え、しかも検査時間を大幅に低減させることができるMRヘッドの検査方法及び装置を提供する。【構成】 MRヘッドの検査方法として、ヘッドブロック14上に配列されたギャップデプス加工後の複数のMRヘッドに、これらヘッドの空気ベアリング面14aに垂直でありかつ正弦波状に変化する交番外部磁界を印加し、この外部磁界の変化に対する各MRヘッドの電磁変換特性を得るようにしている。また、MRヘッドの検査装置として、ヘッドブロック14上に配列されたギャップデプス加工後の複数のMRヘッドの各々の出力電極に電気的に接触可能なプローブ15と、これらヘッドの空気ベアリング面14aに垂直でありかつ正弦波状に変化する交番外部磁界をヘッドブロック14に印加する手段10と、外部磁界印加中の各MRヘッドの出力電圧をプローブ15を介して受け取り、各MRヘッドの外部磁界の変化に対する電磁変換特性を測定する手段12とを備えている。
請求項（抜粋）：
ヘッドブロック上に配列されたギャップデプス加工後の複数の磁気抵抗効果ヘッドに、該ヘッドの空気ベアリング面に垂直でありかつ正弦波状に変化する交番外部磁界を印加し、該外部磁界の変化に対する該各磁気抵抗効果ヘッドの電磁変換特性を得るようにしたことを特徴とする磁気抵抗効果ヘッドの検査方法。
IPC (2件)：
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