特許

J-GLOBAL ID：200903040347166771

糖鎖構造同定方法及び同解析装置

発明者： 亀山 昭彦 ,  成松 久 ,  菊池 紀広 ,  中家 修一
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所 ,  三井情報開発株式会社 ,  株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-080611
公開番号（公開出願番号）：特開2005-265697
出願日： 2004年03月19日
公開日（公表日）： 2005年09月29日
要約：

【課題】 微量のサンプルで、簡便且つ迅速に糖鎖の完全な一次構造を決定することのできる、糖鎖構造解析システムを提供する。 【解決手段】 分析目的糖鎖を開裂質量分析することにより得られる測定MS2フラグメントパターンに含まれる各MS2フラグメントイオンの更に開裂質量分析パターンである測定MS3フラグメントパターンをデータベースに記憶されている参照MS3フラグメントパターンと照合することにより分析目的糖鎖構造の同定を行う、質量分析装置を用いた糖鎖構造同定方法において、測定MS2フラグメントパターンに含まれる複数のMS2フラグメントイオンのうち、データベースに記憶されている、その質量電荷比をプリカーサイオン質量電荷比とする複数の参照MS3フラグメントパターンの相互の類似度が所定値以下の測定MS2フラグメントイオンのみを開裂質量分析するようにする。【選択図】 図15

請求項（抜粋）：

分析目的糖鎖を開裂質量分析することにより得られる測定MS2フラグメントパターンに含まれる各MS2フラグメントイオンの更に開裂質量分析パターンである測定MS3フラグメントパターンをデータベースに記憶されている参照MS3フラグメントパターンと照合することにより分析目的糖鎖構造の同定を行う、質量分析装置を用いた糖鎖構造同定方法において、 測定MS2フラグメントパターンに含まれる複数のMS2フラグメントイオンのうち、データベースに記憶されている、その質量電荷比をプリカーサイオン質量電荷比とする複数の参照MS3フラグメントパターンの相互の類似度が所定値以下の測定MS2フラグメントイオンのみを開裂質量分析することを特徴とする糖鎖構造同定方法。

IPC (3件)：

G01N27/62 ,  G01N33/48 ,  G01N33/483

FI (4件)：

G01N27/62 V ,  G01N27/62 D ,  G01N33/48 Z ,  G01N33/483 E

Fターム (3件)：

2G045DA30 ,  2G045FA36 ,  2G045JA01