特許

J-GLOBAL ID：200903040400210303

被着物への付着物の塗布量および付着分布状態の測定方法およびその装置。

発明者： 津賀 幸之介 ,  戸崎 紘一 ,  深澤 秀夫 ,  宮原 佳彦 ,  中川 靖夫 ,  増田 信幸
出願人/特許権者： 生物系特定産業技術研究推進機構 ,  コスモ技研株式会社
代理人 (1件)： 斎藤 侑 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-238647
公開番号（公開出願番号）：特開平6-074898
出願日： 1991年08月26日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：

【要約】【目的】 紙、プラスチックに塗料を、また植物の葉などに農薬を塗布した場合のそれら付着物の分布状態、使用量等を予かじめ測定するについて正確、迅速に行うことを目的とする。【構成】 被着物に模擬的に蛍光物質を付着させた測定サンプル片と比較する調査指標片とに紫外線を投射する装置と投射された光の反射光を受光し、受光装置へ送る回転ミラーを設けた装置または投射された光の反射光を分岐受光する装置を光ファイバーで形成し、また該分岐受光した光を光電子増倍管に入射し標準値と測定値を交互に比較測定する装置。

請求項（抜粋）：

塗布量が既知である一つ又は複数個の標準調査指標片と、付着物の代わりに模擬的に蛍光物質を使用し付着させた測定対象となる一つ又は複数個の測定サンプル片に、紫外線を照射し、各々の片を固定したまま、それらの反射光の光路のみを変更して、連続的に該反射光を交互又は逐次に受光装置に取り込み、一つ又は複数個の標準調査指標片と一つ又は複数個の測定サンプル片からの受光量を連続的に比較測定して、測定サンプル片の付着量を求めることを特徴とする、被着物への付着物の塗布量および付着分布状態の測定方法。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G01J 3/42

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭61-262639
  
• 特公昭47-008277