特許
J-GLOBAL ID：200903040401451703
論理集積回路の故障診断方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-216332
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046917
出願日： 1998年07月31日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：
【要約】【課題】 故障診断に必要なデータ蓄積量を削減すことができるとともに、故障箇所を短時間に容易に検出することにより、故障診断を実行する際の手間を大幅に削減することができる論理集積回路の故障診断方法を提供する。【解決手段】 不良論理集積回路10の不良論理出力パターン4に論理出力期待値パターン2を置き換え、その論理出力期待値パターン2で実行した時の期待値故障検出結果6と故障シミュレーション5を実行した時の不良故障検出結果7とを比較し、その比較結果9より故障箇所候補点を指摘する。
請求項（抜粋）：
論理集積回路に対して、そのテスト結果に基づいて作成した故障シミュレーションを用いて、故障箇所の候補点を指摘する論理集積回路の故障診断方法であって、論理入力パターンと論理出力期待値パターンとによる故障シミュレーションを行ったときの故障検出結果と、前記論理出力期待値パターンに置き換えて、前記論理入力パターンを不良論理集積回路に供給して得られた不良論理出力パターンとして、前記論理入力パターンとにより故障シミュレーションを行い、そのときの故障検出結果とを比較し、その比較結果の不一致から故障箇所の候補点を指摘することを特徴とする論理集積回路の故障診断方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 F
, G06F 11/26
2G032AA01
, 2G032AB00
, 2G032AC08
, 2G032AE07
, 2G032AE08
, 2G032AE10
, 2G032AG01
, 2G032AL00
, 5B048AA20
, 5B048CC02
, 5B048DD16
