特許
J-GLOBAL ID：200903040438398713
光ディスクの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-321632
公開番号（公開出願番号）：特開平9-161331
出願日： 1995年12月11日
公開日（公表日）： 1997年06月20日
要約：
【要約】【課題】 光ディスクの基板表層におけるピンホールの検出感度を極めて容易に向上させてピンホール検査の誤判定を減少させるとともに稼働率を向上させ、製品の歩留り及び信頼性を大幅に向上させる。【解決手段】 レーザ光を基板表層5に照射させるに際して、当該レーザ光を光ディスク11の径方向においてその外周側から内周側へ向かって走査させる。
請求項（抜粋）：
ディスク基板上に記録層が形成され、当該記録層上にこの記録層を保護する保護膜が成膜されて基板表層が形成されてなる光ディスクについて、上記基板表層の欠落部分であるピンホールの存否を検査するに際して、被検査物である光ディスクを回転させながら上記基板表層にレーザ光を照射させ、このレーザ光を光ディスクの径方向に外周側から内周側へ向かって走査させて上記光ディスクを透過したレーザ光の光量の大小から上記ピンホールの存否を判定することを特徴とする光ディスクの検査方法。
IPC (4件)：
G11B 7/26
, G11B 23/00
, G11B 25/04 101
, G11B 7/00
G11B 7/26
, G11B 23/00 H
, G11B 25/04 101 Y
, G11B 7/00 H
