特許

J-GLOBAL ID：200903040466080974

箔押検査方法及び装置

発明者： 小原 秀人
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 渡邊 敏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-223334
公開番号（公開出願番号）：特開2002-039729
出願日： 2000年07月25日
公開日（公表日）： 2002年02月06日
要約：

【要約】【課題】 正常に箔押しされたか否かを確実に、かつ容易に判定できる方法と装置の提供を課題とする。【解決手段】 箔押しした後の残箔に光を当ててカメラでとらえ、箔押しして抜け落ちた部分の面積を測定し、その面積が所定範囲内の値であるか否かを判定して、箔押しが確実に行われたかどうかを検査する箔押検査方法と装置である。

請求項（抜粋）：

箔押しした後の残箔に光を当ててカメラでとらえ、箔押しして抜け落ちた部分の面積を測定し、その面積が所定範囲内の値であるか否かを判定して、箔押しが確実に行われたかどうかを検査することを特徴とする箔押検査方法。

IPC (4件)：

G01B 11/28 ,  B41F 33/14 ,  G01N 21/88 ,  G01N 21/892

FI (4件)：

G01B 11/28 Z ,  G01N 21/88 Z ,  G01N 21/892 A ,  B41F 33/14 G

Fターム (18件)：

2C250EB39 ,  2F065AA58 ,  2F065BB01 ,  2F065CC31 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ15 ,  2F065QQ31 ,  2G051AA41 ,  2G051AB11 ,  2G051AB20 ,  2G051AC21 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G051EA12 ,  2G051ED30