特許

J-GLOBAL ID：200903040466935007

非接触検査装置

発明者： 長沼 健 ,  阪上 隆英 ,  松山 和正 ,  中嶋 省志
出願人/特許権者： ライオン株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-057828
公開番号（公開出願番号）：特開2001-249096
出願日： 2000年03月02日
公開日（公表日）： 2001年09月14日
要約：

【要約】【課題】 歯の初期う蝕などのように、表面の観察だけではわからない被験物の内部状態を、短時間で簡単かつ安全に検査できる装置を提供する。【解決手段】 電磁波照射部1から被験物の検査部位に対してエネルギーの照射を行い、これによる被験物の温度上昇を測定するため赤外線撮像部2によって赤外線画像の取得を一定時間続ける。この画像を画像処理装置5で数値データに変換した後、コンピュータ6で温度上昇の程度の分布を分析し、その結果をテレビモニタ7に表示する。もしう蝕があれば、そのう蝕部分は健全部分に比べて温度上昇の度合いが大きいため、表示された画像を見てう蝕の検出および場所の特定をすることができる。従来技術では発見し得なかった初期う蝕も検出でき、早期治療に大きな効果が得られる。

請求項（抜粋）：

被験物にエネルギーを照射する電磁波照射部と、前記被験物から輻射される赤外線の分布を、前記電磁波照射部によるエネルギー照射後に測定する赤外線撮像部と、この赤外線撮像部によって得られた画像を分析する分析手段とを備えることを特徴とする非接触検査装置。

IPC (2件)：

G01N 25/72 ,  A61B 10/00

FI (2件)：

G01N 25/72 K ,  A61B 10/00 E

Fターム (9件)：

2G040AA05 ,  2G040AB08 ,  2G040BA25 ,  2G040BB04 ,  2G040CA02 ,  2G040DA06 ,  2G040DA15 ,  2G040EA06 ,  2G040HA02