特許
J-GLOBAL ID：200903040479638567
CMOSイメージャ用ピクセル補正システム及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小橋 一男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-314211
公開番号（公開出願番号）：特開平11-252464
出願日： 1998年11月05日
公開日（公表日）： 1999年09月17日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 センサを製造後及びその寿命期間中に欠陥性のピクセルをマスク又は補正の可能な画像センサを提供する。【解決手段】 欠陥許容性CMOSイメージセンサは、画像発生中に、欠陥ピクセルを識別し且つそれをマスクするか又は補正する回路を有し、与えられたピクセルの出力を、周りの欠陥性でないピクセルの出力の平均で置換させ、イメージセンサが幾つかの欠陥ピクセルを伴う場合であっても、不所望に明るいか又は暗いスポットの画像を発生しない。本センサは、一つ又はそれ以上のピクセルの各々が露光された照射量を表わす出力を与える1個又はそれ以上のピクセルを有すると共に、それらのピクセルへ電気的に結合されており且つCMOSイメージャ内の欠陥ピクセルを識別し且つ補正する形態の1個又はそれ以上の回路要素を有し、ピクセルの各々は、ウエル内に形成されているホトダイオード拡散部とウエル内に形成されているパワー又は接地へのタップとを有する。
請求項（抜粋）：
イメージャにおける欠陥ピクセルをマスクする方法において、(a)イメージャへ照射を付与し、(b)前記イメージャにおける欠陥ピクセルを識別し、(c)前記欠陥ピクセルの周りに位置している複数個のその他のピクセルの出力を決定し、(d)前記複数個のその他のピクセルの出力を使用して前記欠陥ピクセルの出力をマスクし、それにより前記欠陥ピクセルのマスクされた出力を前記イメージャによって発生される画像内に与えることが可能である、上記各ステップを有することを特徴とする方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
H04N 5/335 P
, H04N 5/335 E
, H01L 27/14 A
